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| 产地类别 | 国产 |
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椭圆偏振测厚仪 偏振测厚仪 测厚仪 型号：MHY-19128
在近代的许多域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度、度、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、学等诸多域得到广泛应用。
椭圆偏振测厚仪产品点：
仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有度、灵敏度以及方便测量等点；
光源采用氦氖激光器，率稳定、波长度；
仪器配有生成表、查表以及计算等软件，方便用户使用。
规格与主要标：
测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10
测量小示值：≤1nm 入射光波长：632.8nm
光学中心：80mm 允许样品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm
偏振器方位角范围：0°- 180°读取分辨率为0.05°
测量膜厚和折射率重复性度分别为：±1nm和±0.01
主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20°- 90°度为0.05°
成套性：主机、电控系统、计算软件
外形尺寸：680*390*320mm
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