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薄片自动度测厚仪

简要描述:薄片自动度测厚仪
适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量

  • 产品型号:MHY-21045
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-07-16
  • 访  问  量:528

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详细介绍

产地类别国产

薄膜厚度测试仪 塑料薄膜/薄片自动度测厚仪  型号:MHY-21045

 

薄片自动度测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量

 

薄膜厚度测试仪器  征 

微电脑控制、液晶显示

菜单式界面、PVC操作面板

接触式测量

测头自动升降

自动样

手动、自动双重测量模式

数据实时显示、自动统计

显示大值、小值、平均值和统计偏差

可设样步距、测量点数、样速度等参数

标准接触面积、测量压力(非标可选)

显示大值、小值、平均值和统计偏差

标准量块标定

RS232接口

网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输

薄膜厚度测试仪器标

测量范围:0~2mm;0~6mm,12mm(可选)

分 辨 率:0.1μm

测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张) 

接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张) 

     注:薄膜、纸张选种;非标可定制

样步距:0~1000mm

样速度:0.1~99.9mm/s

电  源:AC 220V 50Hz

外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)

净  重:32kg

薄膜厚度测试仪器标  准

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

薄膜厚度测试仪器配  置 

标准配置:主机、标准量块件

选 购 件:业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

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