数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!
仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入;具有零位、满度自校能;自动转换量程;测试探头采用耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。
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