如何测试方块电阻

方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。方块电阻的大小与样品尺寸无关，其单位为Siements/sq，后增加欧姆/sq表征方式，该单位直接翻译为方块电阻或者面电阻，用于膜层测量又称为膜层电阻。

测试方法

方块电阻如何测试呢，可不可以用用表电阻档直接测试图所示的材料呢?不可以的，因用表的表笔只能测试点到点之间的电阻，而这个点到点之间的电阻不表示何意义。如要测试方阻，我们需要在A边和B边各压上个电阻比导电膜电阻小得多的圆铜棒，而且这个圆铜棒光洁度要，以便和导电膜接触良好。这样我们就可以通过用用表测试两铜棒之间的电阻来测出导电薄膜材料的方阻。

如果方阻值小，如在几个欧姆以下，因为存在接触电阻以及用表本身性能等因素，用用表测试就会存在读数不稳和测不准的情况。这时就需要用门的用四端测试的低电阻测试仪器，如毫欧计、微欧仪等。测试方法如下:用四根光洁的圆铜棒压在导电薄膜上，如图二所示。四根铜棒用A、B、C、D表示，它们上面焊有导线接到毫欧计上，我们使BC之间的距离L等于导电薄膜的宽度W，至于AB、CD之间的距离没有要求，般在10--20mm就可以了，接通毫欧计以后，毫欧计显示的阻值就是材料的方阻值。这种测试方法的优点是:(1)用这种方法毫欧计可以测试到几百毫欧，几十毫欧，甚至更小的方阻值，(2)由于采用四端测试，铜棒和导电膜之间的接触电阻，铜棒到仪器的引线电阻，即使比被测电阻大也不会影响测试度。(3)测试度。由于毫欧计等仪器的度很，方阻的测试度主要由膜宽W和导电棒BC之间的距离L的机械度决定，由于尺寸大，这个机械度可以做得。在实际操作时，为了提测试度和为了测试长条状材料，W和L不定相等，可以使L比W大很多，此时方阻Rs=Rx*W/L,Rx为毫欧计读数。

此方法虽然度，但麻烦，尤其在导电薄膜材料大，形状不整齐时，很难测试，这时就需要用用的四探针探头来测试材料的方阻，如图三所示。

探头由四根探针阻成，要求四根探针头的距离相等。四根探针由四根引联接到方阻测试仪上，当探头压在导电薄膜材料上面时，方阻计就能立即显示出材料的方阻值，具体原理是外端的两根探针产生电场，内端上两根探针测试电场在这两个探点上形成的电势。因为方阻越大，产生的电势也越大，因此就可以测出材料的方阻值。需要提出的是虽然都是四端测试，但原理上与图二所示用铜棒测方阻的方法不同。因电场中仅少分电在BC点上产生电压(电势)。所示灵敏度要低得多，比值为1:4.53。

影响探头法测试方阻度的因素:

(1)要求探头边缘到材料边缘的距离大大于探针间距，般要求10倍以上。

(2)要求探针头之间的距离相等，否则就要产生等比例测试误差。

(3)理论上讲探针头与导电薄膜接触的点越小越好。但实际应用时，因针状电容易破坏被测试的导电薄膜材料，所以般采用圆形探针头。

zui后谈谈实际应用中存在的问题

1、如果被测导电薄膜材料表面上不干净，存在油污或材料暴露在空气中时间过长，形成氧化层，会影响测试稳定性和测试度。在测试中需要引起注意。

2、如探头的探针存在油污等也会引起测试不稳，此时可以把探头在干净的白纸上滑动几下擦擦可以了。

3、如果材料是蒸发铝膜等，蒸发的厚度又太薄的话，形成的铝膜不能均匀的连成片，而是形成点状分布，此时方块电阻值会大大增加，与通过称重法计算的厚度和方阻值不样，因此，此时就要考虑到加入修正系数。